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半導體鐳射治療兒童弱視

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通過對6~16歲少年兒童4種類型弱視經過3個療程的低強度半導體鐳射的照射治療,利用醫用統計學方法中的秩和檢驗方法對其療效進行檢驗及統計推斷,治療效果顯著。從逐米視力觀察法中看出,近視弱視、遠視弱視、遠視弱視斜視散光3個組療效優於近視弱視斜視散光組,提示這組兒童弱視的治療不但要儘早治療,還要配合其它方法進行綜合治療。

半導體鐳射治療兒童弱視

資料來源

少年兒童弱視治療的臨床病例,選擇治療前單眼裸眼視力在0.02~0.4 的低視力弱視兒童,年齡6~16歲,共99例158隻眼,分成4組進行治療觀察。其中, 近視弱視46隻眼,遠視弱視48隻眼,遠視弱視斜視散光47隻眼, 近視弱視斜視散光17隻眼。每組均按視力逐米觀察法[1] 進行視力檢測,即視力按5、4、3、2、1米逐米檢測。

治療方法

裝置為DBJⅡ多功能半導體鐳射治療儀,波長650nm,一分二光纖末端輸出功率為1.5±0.2mw ,光斑直徑2mm。照射晴明、上明、承泣等穴位,每穴5min,能量密度

14.33j/cm2;瞳孔照射5min,距離30cm , 光斑直徑24mm,能量密度0.0091J/cm2。每天1次,10次為1療程, 連續觀察3個療程。

視力檢測方法

採用國際標準視力表測量, 常用方法測量距離為5米,但為了細緻觀察,採用逐米測量方法對0. 02 以上視力弱視兒童進行測量,3療程後,某患者測量的資料。

3療程後,每組資料可看做隨機區組設計資料,採用隨機 區組設計資料的秩和檢驗方法[2]統計,以每隻眼晴為最小單位,初次檢查為原始資料(對照組)。3療程後所取資料為每位患者第1次鐳射治療後與初次檢測視力的逐米視力的差,第2次鐳射治療後與第1次鐳射治療後的逐米視力差,第3次鐳射治療後與第2次鐳射治療後的逐米視力差,並求出各組的均值,再加以排序。

討論

鐳射療法的有效性及安全性

應用低強度HeNe鐳射對兒童弱視的治療國內已有報道,而且療效顯著。本研究所用儀器為半導體鐳射,波長 650nm與He?Ne鐳射波長632.8nm相近,治療劑量參照He?Ne 鐳射治療方法,通過觀察,半導體鐳射光纖穴位照射與瞳孔照射的能量密度均在美國國家標準協會(ANSI)制定安全標準眼晴致傷閾值內, 也符合我國新近制定的散射鐳射對眼晴照射安全閾值標準。鐳射治療3療程後視力提高, 眼底檢查無異常改變。

療效的檢驗結果

4種類型弱視治療均隨治療次數的增加效果也有明顯好轉,都具有統計意義。但χ2r(5)《χ2r(2),χ2r(3),χ2r(4),說明近視弱視斜視散光組與其他組相比,效果欠佳,提示這種型別弱視應儘早治療並且配合其他方法綜合治療為好。

半導體鐳射的優點

半導體鐳射與HeNe 鐳射相比具有以下特點:①體積小重量輕,易於移動和攜帶;②波長相近,功能相同;③功率輸出穩定,工作時間長,達2萬小時;④故障率低,堅固耐用。 依據上述特點,本研究應用半導體鐳射替代He?Ne 鐳射對弱視進行治療觀察的療效結果認為是滿意的。